出展品目：

1. 手術顕微鏡システム

1. オープンシンポジウム：
   　　期日：2011年9月6日（火）　16:50から17:20
   　　会場：9号館　2階　925室（A室）
   　　講演：「高速スキャンオートフォーカス法による表面性状・形状測定」 
    
2. 学術講演：
   　　期日：9月8日（木）　13:20から14:50*
   　　会場：会議室AからD*　　* 講演時間と会場の詳細がわかり次第お知らせ致します
   　　講演：「我が社の新技術発表会」
   
   　　期日：9月9日（金）　9:00から9:20
   　　会場：会議室B 30
   　　講演：「スキャンオートフォーカス形状測定法の開発」
   
   　　期日：9月9日（金）　10:40から11:00
   　　会場：会議室B 35
   　　講演：「非接触機上計測システムの開発」 
    
3. 公開パネル展示：
   　　期日：9月7日（水）　9:00から16:00
   　　会場：中部大学春日井キャンパス　9号館1階　キャンパスプラザ
   　　ブースNo.：25

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60

入場料　　：1,000円　　*招待券持参者・事前登録者は無料

招待券ご希望の方は、弊社までお問い合わせくださいませ。

場所　　　 ： 東京ビックサイト　東1・2ホール

ブースNo.：　F-12（東２ホール）

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60
   インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
2. 高NA非球面形状測定装置　NH-3SP/SE
   60°以上の傾斜面のサブµm計測を可能にしたスティッチング計測技術
3. 非接触輪郭形状測定機　MLP-2
   微細な工具、歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

外科手術の新領域を切り拓く日本のものづくり技術

受賞案件と受賞理由

天文・宇宙分野で培った光学技術や電子技術を基に、創意工夫によって高倍率で使い勝手のよい手術顕微鏡システムの開発により、マクロサージャリーの領域を拡大し、多くの人命を救うとともに、患者の生活の質の向上に貢献している。

出展品目：

1. 手術顕微鏡システム

入場料：1,000円　（登録入場制・税込）　　* 招待券持参者・事前来場登録者は無料

場　所：東京ビックサイト　東4・5ホール

ブースNo.：912　（東5ホール）

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60　　（新製品）
   インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
2. 高NA非球面形状測定装置　NH-3SP/SE
   金型と成型品2つの測定を1台で実現
3. 非接触輪郭形状測定機　MLP-2
   歯車やマイクロツールの非接触測定をサブミクロンオーダーで実現

1. 先端技術紹介機器・パネル・カタログ展示：
   期日：2011年3月14日（月）から16日（水）　　10:00から13:00まで
   会場：6号館地下食堂内
2. 先端技術紹介セッション（プレゼンテーション）
   期日：2011年3月15日（火）　　13:15から13:30まで
   会場：6号館地下食堂内
   発表内容：スキャンオートフォーカスを搭載し、広範囲を高速・高分解能測定を実現した
   　　　　「非接触三次元形状測定装置　PF-600」について

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60

出展品目：

1. 手術顕微鏡システム

入 場 料：当日3,000円／前売1,000円（税込）　* 学生：無料（高校生以上は登録が必要）

場     所：東京ビックサイト

ブースNo.：W3043

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60　（新製品）
   インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
2. 高NA非球面形状測定装置　NH-3SP/SE
   60°以上の傾斜面のサブµm計測を可能にしたスティッチング計測技術
3. 非接触輪郭形状測定機　MLP-2
   微細な工具、歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

出展品目：

1. 手術顕微鏡システム

1. 先端技術紹介機器・パネル・カタログ展示：

期日：2010年9月27日（月）から29日（水）　9:00から13:00まで

会場：IB電子情報館　1階　（大会総合受付と同フロア）

2. 先端技術紹介セッション（プレゼンテーション）：

期日：2010年9月28日（火）　10:30から11:00　*弊社発表時間は10:40から10:50

会場：IB電子情報館1階　013号室

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60

出展品目：

1. 手術顕微鏡システム

入場料：1,000円　* 招待券持参者・事前登録者は無料

　　　　　　招待券ご希望の方は、弊社までお問い合わせくださいませ。

場所　　：東京ビックサイト　東5・6ホール

ブースNo.：E-21

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60　（新製品）
   インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
2. 高NA非球面形状測定装置　NH-3SP/SE
   60°以上の傾斜面のサブµm計測を可能にしたスティッチング計測技術
3. 非接触輪郭形状測定機　MLP-2
    微細な工具、歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

場所：三鷹市役所中庭・三鷹市公会堂ホール・公会堂別館会議室

入場料：無料　* 事前申し込み不要

みたか環境フェスタの詳細（三鷹市役所公式HPの内部ページにリンク）