測定計測展 2025に出展のご案内

2025
08.01
展示会
# 測定機器

東京ビッグサイトにて行われる「測定計測展 2025」にスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置、レーザプローブを用いた非接触全周三次元測定装置等を出展致します。

 

期     間:2025年9月10日(水)~ 9月12日(金)の3日間

開場期間:10時から17時

入 場 料:無料(完全事前登録制)

場     所:東京ビッグサイト 西1 - 4ホール

小間番号:M-05

 

出展品目:

非接触表面性状測定装置 PF-60

・インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載

・搬送系ロボットを組み合わせた自動化システムを展示

 

超精密非接触全周三次元測定装置 MLP-3SP

・微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

・精密小型部品の内径寸法・形状測定に最適な「オートフォーカス光軸傾斜法」を実演

 

非接触三次元測定装置 NHs-1515

・ポイントオートフォーカス法のベストセラー測定装置 NHシリーズを改良
・AFモータをDDモータ化し静粛性と速度を向上、測定画面を一新しスムーズな操作性を実現